Tìm kiếm nâng cao

Thuỷ tinh - Phương pháp xác định độ bền xung nhiệt

Tác giả:
Nhà xuất bản:
Năm xuất bản: 1988
Nơi xuất bản:
Loại tài liệu:
Số trang: 0
Kích cỡ khổ:
Mã kho:

Tóm tắt nội dung:
Tiêu chuẩn này phù hợp với ST SEV 3351:1981 và thay thế TCVN 1045:1971. Tiêu chuẩn này quy định phương pháp xác định độ bền xung nhiệt của thuỷ tinh silicat ở dạng vật liệu

Nội dung này chưa được cập nhật

Sách cùng chuyên ngành